يعرض 1 - 10 نتائج من 213 نتيجة بحث عن '"Nicollerat, As"', وقت الاستعلام: 0.88s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
    تقرير

    المؤلفون: Buttar, C., Dittmaier, S., Drollinger, V., Frixione, S., Nikitenko, A., Abdullin, S. Willenbrock S., Accomando, E., Acosta, D., Arbuzov, A., Ball, R. D., Ballestrero, A., Bartalini, P., Baur, U., Belhouari, A., Belov, S., Belyaev, A., Benedetti, D., Binoth, T., Bolognesi, S., Bondarenko, S., Boos, E. E., Boudjema, F., Bredenstein, A., Bunichev, V. E., Campbell, J. M., Calame, C. Carloni, Catani, S., Cavanaugh, R., Ciccolini, M., Collins, J., Cooper-Sarkar, A. M., Corcella, G., Cucciarelli, S., Davatz, G., DelDuca, V., Denner, A., D'Hondt, J., Drozdetskiy, A., Dudko, L. V., Duehrssen, M., Frazier, R., Fujimoto, J., Gascon-Shotkin, S., Gehrmann, T., Ridder, A. Gehrmann-De, Giammanco, A., Giolo-Nicollerat, A. -S., Glover, E. W. N., Godbole, R. M., Grau, A., Grazzini, M., Guillet, J. -Ph., Gusev, A., Harlander, R., Hegde, R., Heinrich, G., Heyninck, J., Huston, J., Ishikawa, T., Kalinowski, A., Kaneko, T., Kato, K., Kauer, N., Kilgore, W., Kirsanov, M., Korytov, A., Kraemer, M., Kulesza, A., Kurihara, Y., Lehti, S., Magnea, L., Mahmoudi, F., Maina, E., Maltoni, F., Mariotti, C., Mellado, B., Mercier, D., Mitselmakher, G., Montagna, G., Moraes, A., Moretti, M., Moretti, S., Nakano, I., Nason, P., Nicrosini, O., Nolten, M. R., Olness, F., Pakhotin, Yu., Pancheri, G., Piccinini, F., Pilon, E., Pittau, R., Pozzorini, S., Pumplin, J., Quayle, W., Ross, D. A., Sadykov, R., Sandhoff, M., Savrin, V. I., Schmidt, A., Schulze, M., Schumann, S., Scurlock, B., Sherstnev, A., Skands, P., Somogyi, G., Smith, J., Spira, M., Srivastava, Y., Stenzel, H., Sumino, Y., Tanaka, R., Trocsanyi, Z., Tsuno, S., Vicini, A., Wackeroth, D., Weber, M. M., Weiser, C., Willenbrock, S., Wu, S. L., Zanetti, M.

    مصطلحات موضوعية: High Energy Physics - Phenomenology

  3. 3
    تقرير

    المؤلفون: Group, LHC/LC Study, Weiglein, G., Barklow, T., Boos, E., De Roeck, A., Desch, K., Gianotti, F., Godbole, R., Gunion, J. F., Haber, H. E., Heinemeyer, S., Hewett, J. L., Kawagoe, K., Monig, K., Nojiri, M. M., Polesello, G., Richard, F., Riemann, S., Stirling, W. J., Akeroyd, A. G., Allanach, B. C., Asner, D., Asztalos, S., Baer, H., Battaglia, M., Baur, U., Bechtle, P., Belanger, G., Belyaev, A., Berger, E. L., Binoth, T., Blair, G. A., Boogert, S., Boudjema, F., Bourilkov, D., Buchmuller, W., Bunichev, V., Cerminara, G., Chiorboli, M., Davoudiasl, H., Dawson, S., De Curtis, S., Deppisch, F., Diaz, M. A., Dittmar, M., Djouadi, A., Dominici, D., Ellwanger, U., Feng, J. L., Ginzburg, I. F., Giolo-Nicollerat, A., Gjelsten, B. K., Godfrey, S., Grellscheid, D., Gronberg, J., Gross, E., Guasch, J., Hamaguchi, K., Han, T., Hisano, J., Hollik, W., Hugonie, C., Hurth, T., Jiang, J., Juste, A., Kalinowski, J., Kilian, W., Kinnunen, R., Kraml, S., Krawczyk, M., Krokhotine, A., Krupovnickas, T., Lafaye, R., Lehti, S., Logan, H. E., Lytken, E., Martin, V., Martyn, H. -U., Miller, D. J., Moretti, S., Moortgat, F., Moortgat-Pick, G., Muhlleitner, M., Niezurawski, P., Nikitenko, A., Orr, L. H., Osland, P., Osorio, A. F., Pas, H., Plehn, T., Porod, W., Pukhov, A., Quevedo, F., Rainwater, D., Ratz, M., Redelbach, A., Reina, L., Rizzo, T., Ruckl, R., Schreiber, H. J., Schumacher, M., Sherstnev, A., Slabospitsky, S., Sola, J., Sopczak, A., Spira, M., Spiropulu, M., Sullivan, Z., Szleper, M., Tait, T. M. P., Tata, X., Tovey, D. R., Tricomi, A., Velasco, M., Wackeroth, D., Wagner, C. E. M., Weinzierl, S., Wienemann, P., Yanagida, T., Zarnecki, A. F., Zerwas, D., Zerwas, P. M., Zivkovic, L.

    المصدر: Phys.Rept.426:47-358,2006

    مصطلحات موضوعية: High Energy Physics - Phenomenology

  4. 4
  5. 5
  6. 6
    تقرير
  7. 7
  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: Physics Reports. 426(2-6)

    وصف الملف: application/pdf

  9. 9
  10. 10
    مؤتمر

    المصدر: 31st Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Society, 2005. IECON 2005. Industrial Electronics Industrial Electronics Society, 2005. IECON 2005. 31st Annual Conference of IEEE. :5 pp. 2005

    Relation: IECON 2005. Thirty-First Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society