-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Walag, M., Kula, A., Noga, P., Tokarski, T., Cios, G., Niewczas, M.
المصدر: In Journal of Magnesium and Alloys June 2024 12(6):2534-2556
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Hiura, F., Niewczas, M.
المصدر: In Materials Science & Engineering A May 2024 900
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Kula, A., Niewczas, M.
المصدر: In Materials & Design January 2024 237
-
4تقرير
المؤلفون: Ahmed, S. J., Niewczas, M.
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1809.09794
-
5تقرير
المؤلفون: Ahmed, S. J., Boyer, C., Niewczas, M.
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1808.05743
-
6تقرير
المؤلفون: Ahmed, S. J., Greedan, J. E., Boyer, C., Niewczas, M.
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1808.05741
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kula, A., Jia, X., Mishra, R.K., Niewczas, M.
المصدر: In International Journal of Plasticity August 2022 155
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Niewczas, M., Kula, A.
المصدر: In Acta Materialia November 2021 220
-
9مؤتمر
المؤلفون: Niewczas, M.
المصدر: 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 1997. ICMTS 1997. Proceedings. IEEE International Conference on. :169-172 1997
Relation: 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings
-
10مؤتمر
المؤلفون: Jaworski, Z., Niewczas, M., Kuzmicz, W.
المصدر: Proceedings. 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.97TB100125) VLSI test VLSI Test Symposium, 1997., 15th IEEE. :172-176 1997
Relation: Proceedings. 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.97TB100125)
Full Text Finder 