-
1مؤتمر
المؤلفون: Amin, I. N. H. M., Nizam, M. H. M., Ng, L. Y.
المصدر: AIP Conference Proceedings; 2024, Vol. 2923 Issue 1, p1-11, 11p
مصطلحات موضوعية: SEWAGE, ATOMIC force microscopes, ULTRAFILTRATION, SCANNING electron microscopes, SURFACE roughness
-
2مؤتمر
المؤلفون: Nizam, M. H. M., Hunter, David K., Andonovic, Ivan
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p244-255, 12p