-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, S., Noh, J.-S., Kim, J., Kim, M., Jang, S. Y., Park, J., Lee, W.
المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 12(6):1135-1138 Nov, 2013
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Kim, Y. S., Choi, Y. H., Lee, J. M., Noh, J. S., Kim, J. J., Bien, F.
المصدر: IEEE Transactions on Vehicular Technology IEEE Trans. Veh. Technol. Vehicular Technology, IEEE Transactions on. 60(4):1485-1495 May, 2011
-
3مؤتمر
المؤلفون: Suh, D.- S., Kim, K.H.P., Noh, J.-S., Shin, W.-C., Kang, Y.-S., Kim, C., Khang, Y., Yoo, I.K.
المصدر: 2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006
Relation: 2006 International Electron Devices Meeting
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Kim, Y S, Cheon, K A, Kim, B N, Chang, S A, Yoo, H J, Kim, J W, Cho, S C, Seo, D H, Bae, M O, So, Y K, Noh, J S, Koh, Y J, McBurnett, K, Leventhal, B
المصدر: Yonsei Medical Journal. 45(1)
مصطلحات موضوعية: K-SADS-PL-K, validity, reliability
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/30935603
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.