-
1مؤتمر
المؤلفون: Olsson, J., Valtonen, R., Heinle, U., Vestling, L., Soderbarg, A., Norde, H.
المصدر: ICMTS 1999. Proceedings of 1999 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.99CH36307) Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 1999. ICMTS 1999. Proceedings of the 1999 International Conference on. :135-140 1999
Relation: Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Hamers, H., Miquel, S., Norde, H.
المصدر: Mathematical Programming: A Publication of the Mathematical Optimization Society. June 2014 145(1-2):509-529
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Masszi, F., Tove, P.-A., Bohlin, K., Norde, H.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 33(4):469-476 Apr, 1986
-
4مؤتمر
المؤلفون: Tove, P A, Bohlin, K E, Norde, H, Magnusson, U, Tiren, J, Soderbarg, A, Rosling, M, Masszi, F, Nylander, J
المصدر: ESSDERC '87: 17th European Solid State Device Research Conference Solid State Device Research Conference, 1987. ESSDERC '87. 17th European. :537-539 Sep, 1987
Relation: 17th European Solid State Device Research Conference
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Tove, P.A., Bohlin, K., Masszi, F., Norde, H., Nylander, J., Tiren, J., Magnusson, U.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 9(1):47-49 Jan, 1988
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Björklund, K.L., Ribbing, C., Norde, H., Boman, M.
المصدر: Applied Physics A: Materials Science and Processing. October 2002 75(4):493-496
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Tove, P. A., Berg, S., Andersson, L. P., Ericsson, B., Norde, H.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 19(3):85-94 Jun, 1972
-
8
المؤلفون: Possnert, G, Fahlander, C, Orre, B, Norde, H, Petersson, Sture, Tove, P. A.
المصدر: Physica Scripta. 18:353-356
وصف الملف: electronic
-
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Tirén, J., Grelsson, Ö., Söderbärg, A., Magnusson, U., Norde, H., Svensson, B. G., Mohadjeri, B., Berg, S.
المصدر: Journal of Applied Physics; 2/15/1990, Vol. 67 Issue 4, p2148, 5p
مصطلحات موضوعية: SILICON crystals, SEMICONDUCTORS, ION implantation, DIODES, MASS spectrometry