-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2مؤتمر
المؤلفون: Pidin, S., Mori, T., Inoue, K., Fukuta, S., Itoh, N., Mutoh, E., Ohkoshi, K., Nakamura, R., Kobayashi, K., Kawamura, K., Saiki, T., Fukuyama, S., Satoh, S., Kase, M., Hashimoto, K.
المصدر: IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :213-216 2004
Relation: 2004 International Electron Devices Meeting
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Shinto, K, Shibata, T, Ohkoshi, K, Nanmo, K, Kawai, I, Ikegami, K
المصدر: Journal of Physics: Conference Series; 2024, Vol. 2743 Issue 1, p1-5, 5p
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Shibata, T, Shinto, K, Nakano, H, Hoshino, K, Miyamoto, K, Ohkoshi, K, Nanmo, K, Ikegami, K, Kawai, I, Oguri, H, Wada, M
المصدر: Journal of Physics: Conference Series; 2024, Vol. 2743 Issue 1, p1-5, 5p
-
5مؤتمر
المؤلفون: Ikeda, K., Miyashita, T., Kubo, T., Yamamoto, T., Sukegawa, T., Okabe, K., Ohta, H., Kim, Y. S., Nagai, H., Nishikawa, M., Shimamune, Y., Hatada, A., Hayami, Y., Ohkoshi, K., Tamura, N., Sukegawa, K., Kurata, H., Satoh, S., Kase, M., Sugii, T.
المصدر: 2008 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2008 Symposium on. :188-189 Jun, 2008
Relation: 2008 Symposium on VLSI Technology
-
6مؤتمر
المؤلفون: Ohta, H., Tamura, N., Fukutome, H., Tajima, M., Okabe, K., Hatada, A., Ikeda, K., Ohkoshi, K., Mori, T., Sukegawa, K., Satoh, S., Sugii, T.
المصدر: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2007. IEDM 2007. IEEE International. :289-292 Dec, 2007
Relation: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting
-
7مؤتمر
المؤلفون: Ohta, H., Fukutome, H., Sakuma, T., Hatada, A., Ohkoshi, K., Ikeda, K., Miyashita, T., Mori, T., Sugii, T.
المصدر: 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2007 IEEE Symposium on. :120-121 Jun, 2007
Relation: 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology
-
8مؤتمر
المؤلفون: Fujita, K., Torii, Y., Hori, M., Oh, J., Shifren, L., Ranade, P., Nakagawa, M., Okabe, K., Miyake, T., Ohkoshi, K., Kuramae, M., Mori, T., Tsuruta, T., Thompson, S., Ema, T.
المصدر: 2011 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2011 IEEE International. :32.3.1-32.3.4 Dec, 2011
Relation: 2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Ueno, A., Ohkoshi, K., Ikegami, K., Oguri, H.
المصدر: Journal of Instrumentation; Aug2023, Vol. 18 Issue 8, p1-9, 9p
-
10مؤتمر
المؤلفون: Shibata, T., Shinto, K., Wada, M., Oguri, H., Ikegami, K., Ohkoshi, K., Nanmo, K.
المصدر: AIP Conference Proceedings; 2021, Vol. 2373 Issue 1, p1-9, 9p