المؤلفون: Doumar, A., Ohmameuda, T., Ito, H.

المصدر: European Test Workshop 1999 (Cat. No.PR00390) European test workshop European Test Workshop 1999. Proceedings. :152-157 1999

Relation: European Test Workshop 1999

المؤلفون: Hammadi, N.C., Ohmameuda, T., Kaneko, K., Ito, H.

المصدر: Proceedings Pacific Rim International Symposium on Fault-Tolerant Systems Fault-tolerant systems Fault-Tolerant Systems, 1997. Proceedings., Pacific Rim International Symposium on. :215-220 1997

Relation: Proceedings Pacific Rim International Symposium on Fault-Tolerant Systems

المؤلفون: Miki, H., Ohmameuda, T., Kumon, M., Asada, K., Sugano, T., Omura, Y., Izumi, K., Sakai, T.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 38(2):373-377 Feb, 1991

المؤلفون: Miki, H., Omura, Y., Ohmameuda, T., Kumon, M., Asada, K., Izumi, K., Sakai, T., Sugano, T.

المصدر: International Technical Digest on Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 1989. IEDM '89. Technical Digest., International. :906-908 1989

Relation: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Hammadi, Nc, Ohmameuda, T., Keiichi Kaneko, Ito, H.

المصدر: Scopus-Elsevier
ResearcherID

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::47d555bc7a74fa57c5e4d0f95857350a
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0031703115&partnerID=MN8TOARS

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.