-
1مؤتمر
المؤلفون: Doumar, A., Ohmameuda, T., Ito, H.
المصدر: European Test Workshop 1999 (Cat. No.PR00390) European test workshop European Test Workshop 1999. Proceedings. :152-157 1999
Relation: European Test Workshop 1999
-
2مؤتمر
المؤلفون: Hammadi, N.C., Ohmameuda, T., Kaneko, K., Ito, H.
المصدر: Proceedings Pacific Rim International Symposium on Fault-Tolerant Systems Fault-tolerant systems Fault-Tolerant Systems, 1997. Proceedings., Pacific Rim International Symposium on. :215-220 1997
Relation: Proceedings Pacific Rim International Symposium on Fault-Tolerant Systems
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Miki, H., Ohmameuda, T., Kumon, M., Asada, K., Sugano, T., Omura, Y., Izumi, K., Sakai, T.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 38(2):373-377 Feb, 1991
-
4مؤتمر
المؤلفون: Miki, H., Omura, Y., Ohmameuda, T., Kumon, M., Asada, K., Izumi, K., Sakai, T., Sugano, T.
المصدر: International Technical Digest on Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 1989. IEDM '89. Technical Digest., International. :906-908 1989
Relation: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: Hammadi, Nc, Ohmameuda, T., Keiichi Kaneko, Ito, H.
المصدر: Scopus-Elsevier
ResearcherIDURL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::47d555bc7a74fa57c5e4d0f95857350a
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0031703115&partnerID=MN8TOARS -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.