يعرض 1 - 10 نتائج من 715 نتيجة بحث عن '"Onal C"', وقت الاستعلام: 0.88s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Onal C

    المصدر: Medicine Science, Vol 1, Iss 2, Pp 150-160 (2012)

    مصطلحات موضوعية: brain, child, head, injury, trauma, Medicine

    وصف الملف: electronic resource

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Bezzo, N., Mehta, A., Onal, C., Tolley, M.

    المصدر: IEEE Robotics & Automation Magazine IEEE Robot. Automat. Mag. Robotics & Automation Magazine, IEEE. 22(4):27-36 Dec, 2015

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE/ASME Transactions on Mechatronics IEEE/ASME Trans. Mechatron. Mechatronics, IEEE/ASME Transactions on. 18(5):1485-1497 Oct, 2013

  5. 5
    مؤتمر

    المؤلفون: Sabanovi, A., Khan, S., Onal, C.

    المصدر: Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 2005. ISIE 2005. Industrial electronics Industrial Electronics, 2005. ISIE 2005. Proceedings of the IEEE International Symposium on. 4:1483-1488 2005

    Relation: Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Onal, C. D., Wood, R. J., Rus, D.

    المصدر: IEEE/ASME Transactions on Mechatronics IEEE/ASME Trans. Mechatron. Mechatronics, IEEE/ASME Transactions on. 18(2):430-438 Apr, 2013

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Onal, C. D., Ozcan, O., Sitti, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 10(3):472-481 May, 2011

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Onal, C. D., Sitti, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 9(1):46-54 Jan, 2010

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 30(1):64-67 Jan, 2009

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Onal, C. D., Sitti, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Control Systems Technology IEEE Trans. Contr. Syst. Technol. Control Systems Technology, IEEE Transactions on. 15(5):842-852 Sep, 2007