-
1مؤتمر
المؤلفون: De Landro, Martina, Orrico, Annalisa, Cariani, Andrea, Cocca, Nicola, Contini, Gabriele, Bianchi, Leonardo, Paloschi, Davide, Korganbayev, Sanzhar, Chiariotti, Paolo, Saccomandi, Paola
المصدر: 2022 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA) Medical Measurements and Applications (MeMeA), 2022 IEEE International Symposium on. :1-6 Jun, 2022
Relation: 2022 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Orrico, Annalisa, Bianchi, Leonardo, Korganbayev, Sanzhar, De Landro, Martina, Saccomandi, Paola
المصدر: 2021 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA) Medical Measurements and Applications (MeMeA), 2021 IEEE International Symposium on. :1-6 Jun, 2021
Relation: 2021 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Korganbayev, Sanzhar, Orrico, Annalisa, Bianchi, Leonardo, De Landro, Martina, Wolf, Alexey, Dostovalov, Alexander, Saccomandi, Paola
المصدر: 2021 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA) Medical Measurements and Applications (MeMeA), 2021 IEEE International Symposium on. :1-6 Jun, 2021
Relation: 2021 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA)
-
4مؤتمر
المؤلفون: Bianchi, Leonardo, Orrico, Annalisa, Korganbayev, Sanzhar, De Landro, Martina, Saccomandi, Paola
المصدر: 2021 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0&IoT) Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0&IoT), 2021 IEEE International Workshop on. :301-306 Jun, 2021
Relation: 2021 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0&IoT)
-
5مؤتمر
المؤلفون: Korganbayev, Sanzhar, Pini, Riccardo, Orrico, Annalisa, Wolf, Alexey, Dostovalov, Alexander, Saccomandi, Paola
المصدر: 2020 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT Metrology for Industry 4.0 & IoT, 2020 IEEE International Workshop on. :268-272 Jun, 2020
Relation: 2020 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0&IoT)
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.