المؤلفون: Martin, M.G., Paulsen, R.E., White, M.H.

المصدر: Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting Electron devices Electron Devices Meeting, 1994. IEDM '94. Technical Digest., International. :221-224 1994

Relation: Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Harp, T.S., Kuhn, P.J., Higman, J.M., Paulsen, R.E., Hornung, B.E.

المصدر: 2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167) Reliability physics symposium Reliability Physics Symposium, 2001. Proceedings. 39th Annual. 2001 IEEE International. :280-282 2001

Relation: 2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual

المؤلفون: Paulsen, R.E., Kyono, C.S., Wang, Y., Klein, K.M., Lim, I.-S., Tinkler, S., Bellamak, B., Odle, D.W., Zhou, Z., Dahl, P., Giovanetto, M., Makwana, J., Patel, S., Reno, C., Lenahan, P.M., Billman, C.A.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 45(3):655-664 Mar, 1998

المؤلفون: Cohen, N.L., Paulsen, R.E., White, M.H.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 42(11):2004-2009 Nov, 1995

المؤلفون: Paulsen, R.E., White, M.H.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 41(7):1213-1216 Jul, 1994

المؤلفون: Paulsen, R.E., Siergiej, R.R., French, M.L., White, M.H.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 13(12):627-629 Dec, 1992

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.