-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Takahashi, S., Kitazawa, M., Yoshikawa, A.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 11:114963-114975 2023
-
2كتاب إلكتروني
المؤلفون: Carrara, SandroAff2
المساهمون: Carrara, SandroAff1
المصدر: Bio/CMOS Interfaces and Co-Design. :273-309
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Mohammad Rakibul Islam, Ali Ahnaf Hassan, Shihab Shahriar, Sumaiya Tasnim Adiba, Fahima Shahana Rahman, Safin Zaman, Muhammad Alif Al Hosain
المصدر: Heliyon, Vol 10, Iss 13, Pp e33224- (2024)
مصطلحات موضوعية: Dual peak sensing, Wavelength sensitivity (WS), Amplitude sensitivity (AS), Double peak shift sensitivity (DPSS), Biosensing, Optical communication band, Science (General), Q1-390, Social sciences (General), H1-99
وصف الملف: electronic resource
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Islam, Mohammad RakibulAff1, IDs00339023068513_cor1, Iftekhar, A. N. M., Hassan, Ali Ahnaf, Zaman, Safin, Al Hosain, Muhammad Alif
المصدر: Applied Physics A: Materials Science & Processing. 129(8)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Kovacevic, M.
المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 65(8):4804-4814 Aug, 2019
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Janina Mittelhaus, Phil Röttger, Eduard Schill, Julius Jacobs, Bodo Fiedler
المصدر: Polymer Testing, Vol 128, Iss , Pp 108217- (2023)
مصطلحات موضوعية: Brittle-to-ductile transition, Plasticity, Thermomechanical behavior, Size effect, Infrared spectroscopy, Peak shift, Polymers and polymer manufacture, TP1080-1185
وصف الملف: electronic resource
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Mohammad Rakibul Islam, Md Moinul Islam Khan, Ahmad Jarif Yeasir, Fariha Mehjabin, Jannat Ara Mim, Jubair Alam Chowdhury, Tajuddin Ahmed Nahid, Mohibul Islam
المصدر: Heliyon, Vol 9, Iss 8, Pp e18782- (2023)
مصطلحات موضوعية: RI sensor, Temperature sensor, Surface plasmon resonance, Wavelength sensitivity, Amplitude sensitivity, Double step dual peak shift sensitivity, Science (General), Q1-390, Social sciences (General), H1-99
وصف الملف: electronic resource
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Satoshi Takahashi, Masaki Kitazawa, Atsushi Yoshikawa
المصدر: IEEE Access, Vol 11, Pp 114963-114975 (2023)
مصطلحات موضوعية: Examination, IRT, peak shift estimation, ranking, selectively omitted exam data, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
9مؤتمر
المؤلفون: Kawaguchi, Shuhei, Fukuyama, Yoshikazu
المصدر: 2016 IEEE Region 10 Conference (TENCON) Region 10 Conference (TENCON), 2016 IEEE. :3406-3409 Nov, 2016
Relation: TENCON 2016 - 2016 IEEE Region 10 Conference
-
10مؤتمر
المؤلفون: Itako, Kazutaka, Ochiai, Masataka, Iiduka, Naoaki, Hossam, Bakhsh
المصدر: 2016 IEEE International Conference on Power and Renewable Energy (ICPRE) Power and Renewable Energy (ICPRE), IEEE International Conference on Power and. :195-199 Oct, 2016
Relation: 2016 IEEE International Conference on Power and Renewable Energy (ICPRE)