يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Pelle, Servan"', وقت الاستعلام: 0.79s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Analytical Model of SRAM VMin to Predict Reliability and Process Impact

    المؤلفون: Kumar, Tanuj, Cacho, Florian, Roy, Tanmoy, De La Bardonnie, Marc, Pelle, Servan, Giner, Fabien

    المصدر: 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2023 IEEE International. :1-4 Oct, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء