المؤلفون: Balasinski, A., Petti, C., Bamnolker, H., Ramkumar, K., Chung, A.

المصدر: 1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat. No.98EX100) Plasma process-induced damage Plasma Process-Induced Damage, 1998 3rd International Symposium on. :26-29 1998

Relation: 1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage

المؤلفون: Herner, S.B., Bandyopadhyay, A., Dunton, S.V., Eckert, V., Gu, J., Hsia, K.J., Hu, S., Jahn, C., Kidwell, D., Konevecki, M., Mahajani, M., Park, K., Petti, C., Radigan, S.R., Raghuram, U., Vienna, J., Vyvoda, M.A.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 25(5):271-273 May, 2004

المؤلفون: Walker, A.J., Nallamothu, S., Chen, E.-H., Mahajani, M., Herner, S.B., Clark, M., Cleeves, J.M., Dunton, S.V., Eckert, V.L., Gu, J., Hu, S., Knall, J., Konevecki, M., Petti, C., Radigan, S., Raghuram, U., Vienna, J., Vyvoda, M.A.

المصدر: 2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407) VLSI technology VLSI Technology, 2003. Digest of Technical Papers. 2003 Symposium on. :29-30 2003

Relation: 2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers

المؤلفون: Ting, W., Petti, C., Radigan, S., Ramkumar, K., Trammel, P.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 15(8):283-285 Aug, 1994

المؤلفون: Helm, M., Kavanaugh, W., Liew, B-K., Petti, C., Stolmeijer, A., Ben-tzur, M., Bornstein, J., Lilygren, J., Ting, W., Trammel, P., Allan, J., Gray, G., Hartranft, M., Radigan, S., Shanmugan, J.K., Shrivastava, R.

المصدر: Symposium 1993 on VLSI Technology VLSI Technology, 1993. Digest of Technical Papers. 1993 Symposium on. :65-66 1993

Relation: Symposium 1993 on VLSI Technology

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.