المؤلفون: Piot, J., Qian, J., Pirée, H., Kotte, G., Pétry, J., Kruth, J.-P., Vanherck, P., Van Haesendonck, C., Reynaerts, D.

المصدر: In Measurement January 2013 46(1):739-746

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Matus, M., Pirée, H., Gavalyugov, V., Tamakyarska, D., Thalmann, R., Balling, P., Garnæs, J., Hald, J., Farid, N., Prieto, E., Lassila, Antti, Salgado, J., Lewis, A., Bandis, Ch, Mudronja, V., Bánréti, E., Balsamo, A., Bergmans, R., Karlsson, H., Ramotowski, Z., Saraiva, F., Eusébio, L., Duta, A., Zelenika, S., Bergstrand, S., Fíra, R., Yandayan, T., Şendoǧdu, D., Akgöz, S. A., Ganioǧlu, O., Haas, S., Franke, P.

المصدر: Matus, M, Pirée, H, Gavalyugov, V, Tamakyarska, D, Thalmann, R, Balling, P, Garnæs, J, Hald, J, Farid, N, Prieto, E, Lassila, A, Salgado, J, Lewis, A, Bandis, C, Mudronja, V, Bánréti, E, Balsamo, A, Bergmans, R, Karlsson, H, Ramotowski, Z, Saraiva, F, Eusébio, L, Duta, A, Zelenika, S, Bergstrand, S, Fíra, R, Yandayan, T, Şendoǧdu, D, Akgöz, S A, Ganioǧlu, O, Haas, S & Franke, P 2016, ' Report on key comparison EURAMET.L-K1.2011 measurement of gauge blocks by interferometry ', Metrologia, vol. 53, no. 1A, 04003 . https://doi.org/10.1088/0026-1394/53/1A/04003

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=355e65625b88::67d3a90075d9a2fad64cf186346d8278
https://cris.vtt.fi/en/publications/78b3ee36-1a32-4c6c-b31d-fd866e8f8643

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Piot, J., Jun Qian, Pirée, H., Kotte, G., Pétry, J., Kruth, J. -P, Vanherck, P., Haesendonck, C., Reynaerts, D.

المصدر: Scopus-Elsevier

مصطلحات موضوعية: Precision engineering, Nanometrology

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c5f2218ed28ca7ededb09895e2254e1b
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/319347

المؤلفون: Piot, J., Jun Qian, Pirée, H., Kotte, G., Petry, J., Kruth, J. -P, Haesendonck, C., Reynaerts, D.

المصدر: Scopus-Elsevier

مصطلحات موضوعية: atomic force microscopy, precision engineering, nanometrology

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7071760ed388dcb617e260e56aa1fb30
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/262205

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.