المؤلفون: Poorghasem, E.^{Aff1, ID2611_cor1}, Piri, F.

المصدر: Journal of Structural Chemistry. 64(7):1188-1205

المؤلفون: Piri, F., Rahimi, E., Bassi, M., Svelto, F., Mazzanti, A.

المصدر: IEEE Solid-State Circuits Letters IEEE Solid-State Circuits Lett. Solid-State Circuits Letters, IEEE. 2(9):155-158 Sep, 2019

المؤلفون: Piri, F., Bassi, M., Lacaita, N.R., Mazzanti, A., Svelto, F.

المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 53(12):3576-3586 Dec, 2018

المؤلفون: Qazviniha, M. Rezaei, Piri, F.

المصدر: Mechanics of Advanced Composite Structures (MACS); 2024, Vol. 11 Issue 1, p1-9, 9p

مصطلحات موضوعية: THERMAL insulation, GUMS & resins, TITANIUM dioxide, MAGNESIUM oxide, VANADIUM pentoxide

المؤلفون: Anisseh, M., Dodangeh, J., Piri, F., Dashti, M.A.

المصدر: 2007 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management Industrial Engineering and Engineering Management, 2007 IEEE International Conference on. :847-851 Dec, 2007

Relation: 2007 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management

المؤلفون: Dolatabadi, S., Ahmadi, B., Rezaei-Matehkolaei, A., Zarrinfar, H., Skiada, A., Mirhendi, H., Nashibi, R., Niknejad, F., Nazeri, M., Rafiei, A., Gharaghani, M., Erami, M., Taghipour, S., Piri, F., Makimura, K.

المصدر: In Journal de Mycologie Médicale June 2018 28(2):269-273

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Parsaei, M, Roudbari, E, Piri, F, El-Shafay, AS, Su, CH, Nguyen, Hoang Chinh, Alashwal, M, Ghazali, S, Algarni, M

مصطلحات الفهرس: Journal Article

URL: http://hdl.handle.net/10536/DRO/DU:30164555
http://doi.org/10.1038/s41598-022-08171-7
http://elements.deakin.edu.au/viewobject.html?id=300684&cid=1
issn: 2045-2322
issn: 2045-2322
http://doi.org/10.1038/s41598-022-08171-7
http://elements.deakin.edu.au/viewobject.html?id=300684&cid=1
Scientific reports

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.