المؤلفون: Yatsenko, A.V., Pritulenko, A.S., Yevdokimov, S.V., Sugak, D.Yu., Syvorotka, I.I., Suhak, Yu.D., Solskii, I.M., Vakiv, M.M.

المصدر: International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering - fabrication, properties and applications (OMEE-2014) Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE), 2014 IEEE International Conference on. :185-186 May, 2014

Relation: 2014 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE)

المؤلفون: Yatsenko, A.V., Pritulenko, A.S., Yevdokimov, S.V., Sugak, D.Yu., Solskii, I.M.

المصدر: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE) Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE), 2012 IEEE International Conference on. :157-158 Sep, 2012

Relation: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE)

المؤلفون: Yatsenko, Aleksandr V., Pritulenko, A.S., Yevdokimov, S.V., Sugak, Dmytro Yu., Syvorotka, I.I., Suhak, Yu.D., Solskii, I.M., Vakiv, M.M.

المصدر: Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; June 2015, Vol. 230 Issue: 1 p233-237, 5p

المؤلفون: Yatsenko, Aleksandr V., Pritulenko, A.S., Yevdokimov, S.V., Sugak, Dmytro Yu, Solskii, I.M.

المصدر: Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; April 2013, Vol. 200 Issue: 1 p193-198, 6p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.