-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Q. Courte, M. Rack, M. Nabet, P. Cardinael, J.-P. Raskin
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 620-626 (2022)
مصطلحات موضوعية: Silicon-on-Insulator (SOI) technology, effective resistivity, trap-rich (TR) substrate, Parasitic Surface Conduction (PSC), RF characterization, RF substrate, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: Q. Courte, M. Rack, M. Nabet, P. Cardinael, J.-P. Raskin
المصدر: ESSDERC 2021 - IEEE 51st European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b3c3365e7414b58b49ea6261434badf6
https://doi.org/10.1109/essderc53440.2021.9631831 -
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.