-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: P. Huang, Q. H. Luc, A. Sibaja-Hernandez, H. L. Ko, J. Y. Wu, N. A. Tran, N. Collaert, E. Y. Chang
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 854-859 (2022)
مصطلحات موضوعية: III-V semiconductor materials, MOSFET, high-k gate dielectrics, cutoff frequency, TCAD, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: P. Huang, Q. H. Luc, A. Sibaja-Hernandez, C. W. Hsu, J. Y. Wu, H. L. Ko, N. A. Tran, N. Collaert, E. Y. Chang
المصدر: AIP Advances, Vol 11, Iss 1, Pp 015050-015050-8 (2021)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2158-3226
-
3
المؤلفون: P. Huang, M. Y. Chen, Q. H. Luc, J. Y. Wu, N. A. Tran, E. Y. Chang
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 70:443-448
-
4
المؤلفون: J.-S. Wu, P.-H. Liao, S.-J. Chang, T.-Y. Yang, C.-Y. Teng, Y.-K. Liang, D. Panda, Q. H. Luc, E. Y. Chang
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::511b678d2bbb861439d28e3f79970922
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019471 -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: Lin Yue-Cin, S. H. Huynh, Q. H. Luc, Chenming Hu, C. C. Fan-Chiang, H. C. Wang, M. T. H. Ha, Edward Yi Chang, Y. D. Jin, H. Iwai, Yen-Han Lin, H. B. Do, Po-Tsang Huang, T. A. Nguyen, K. Y. Zhang
المصدر: 2018 IEEE Symposium on VLSI Technology.
مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Silicon, business.industry, Annealing (metallurgy), chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, Dielectric, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Ferroelectricity, chemistry.chemical_compound, chemistry, Logic gate, 0103 physical sciences, MOSFET, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Indium gallium arsenide, Negative impedance converter
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::29f8d2c03f5b0353cae03d912a8acd9b
https://doi.org/10.1109/vlsit.2018.8510644 -
8
المؤلفون: E.Y. Chang, Y.D. Jin, H.B. Do, Q.-H. Luc, H.M.T. Ha, T.A. Nguyen, Y.-C. Lin, C.-C. Chang, J.W. Lin, K.S. Yang, S.H. Huynh, C.-C.Fan Chiang
المصدر: Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Scientific method, Microwave annealing, Optoelectronics, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0dec1e506da4d022dcbf648a9dcba82c
https://doi.org/10.7567/ssdm.2017.ps-3-16 -
9
المؤلفون: Q.-H. Luc, T.A. Nguyen, E.Y. Chang, M.T.H. Ha, Y.-C. Lin, J.W. Lin, K.S. Yang, S.H. Huynh, C.-C.F. Chiang, C.C. Chang, Y.D. Jin, H.B. Do
المصدر: Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Improved performance, Computer science, Plasma treatment, Reliability (statistics), Reliability engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::555badd180b9652e33d65148e619d73b
https://doi.org/10.7567/ssdm.2017.e-1-05 -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.