يعرض 1 - 10 نتائج من 35,161 نتيجة بحث عن '"QD"', وقت الاستعلام: 2.10s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(6):1-10 Sep, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Alsharafi, R., Zhong, C., Liu, Y., Hu, H., Li, F.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(8):4760-4767 Aug, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-5 Aug, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Flageat, M., Cully, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Evolutionary Computation IEEE Trans. Evol. Computat. Evolutionary Computation, IEEE Transactions on. 28(4):891-902 Aug, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Wang, S., Yu, Z., Li, L.

    المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(14):22565-22574 Jul, 2024

  6. 6
    مؤتمر

    المصدر: 2023 4th International Conference on Intelligent Technologies (CONIT) Intelligent Technologies (CONIT), 2023 4th International Conference on. :1-5 Jun, 2024

    Relation: 2024 4th International Conference on Intelligent Technologies (CONIT)

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3970-3976 Jun, 2024

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(1):613-618 Jan, 2024

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(5):8373-8385 Mar, 2024

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Roy, D., Ali, A., Pal, S., Adhikary, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-8 2024