-
1
المؤلفون: S. Guillemin, S. Messaoudene, P. Gergaud, J. Biscarrat, P. Roulet, N. Bernier, R. Templier, R. Souil, X. Zucchi, Ph. Rodriguez
المصدر: Materials Science in Semiconductor Processing. 158:107342
مصطلحات موضوعية: Mechanics of Materials, Mechanical Engineering, General Materials Science, Condensed Matter Physics
-
2
المؤلفون: C Thomas, J-P Michel, E Deschaseaux, J Charbonnier, R Souil, E Vermande, A Campo, T Farjot, G Rodriguez, G Romano, F Gustavo, B Jadot, V Thiney, Y Thonnart, G Billiot, T Meunier, M Vinet
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science, Condensed Matter - Mesoscale and Nanoscale Physics, Mesoscale and Nanoscale Physics (cond-mat.mes-hall), Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Materials Science (cond-mat.mtrl-sci), FOS: Physical sciences
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7e16e5031af65a2a6ac5a0eac935d2e7
http://arxiv.org/abs/2206.09727 -
3
المؤلفون: Guillaume Rodriguez, M.L. Charles, Lilian Masarotto, A. Roule, Laurent Frey, C. Morales, R. Souil, V. Larrey
المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Département d'Optronique (DOPT), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Minalogic competitiveness pole, European Union FEDER, DGCIS national board for industry renewal
المصدر: Thin Solid Films
Thin Solid Films, Elsevier, 2017, 631, pp.23-28. ⟨10.1016/j.tsf.2017.03.055⟩
Thin Solid Films, 2017, 631, pp.23-28. ⟨10.1016/j.tsf.2017.03.055⟩مصطلحات موضوعية: Materials science, Thin films, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Direct bonding, 01 natural sciences, 010309 optics, [SPI]Engineering Sciences [physics], Interference (communication), 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Materials Chemistry, Wafer, Image sensor, Optical filter, Process characterization, Wavelength filtering devices, 010302 applied physics, CMOS sensor, Optical properties, Materials characterization, business.industry, Metals and Alloys, Surfaces and Interfaces, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Transmission (telecommunications), CMOS, Optoelectronics, business
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.