المؤلفون: S. Guillemin, S. Messaoudene, P. Gergaud, J. Biscarrat, P. Roulet, N. Bernier, R. Templier, R. Souil, X. Zucchi, Ph. Rodriguez

المصدر: Materials Science in Semiconductor Processing. 158:107342

مصطلحات موضوعية: Mechanics of Materials, Mechanical Engineering, General Materials Science, Condensed Matter Physics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::35d80a7d090f8883951c093fad4cb02b
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2023.107342

المؤلفون: C Thomas, J-P Michel, E Deschaseaux, J Charbonnier, R Souil, E Vermande, A Campo, T Farjot, G Rodriguez, G Romano, F Gustavo, B Jadot, V Thiney, Y Thonnart, G Billiot, T Meunier, M Vinet

مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science, Condensed Matter - Mesoscale and Nanoscale Physics, Mesoscale and Nanoscale Physics (cond-mat.mes-hall), Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Materials Science (cond-mat.mtrl-sci), FOS: Physical sciences

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7e16e5031af65a2a6ac5a0eac935d2e7
http://arxiv.org/abs/2206.09727

المؤلفون: Guillaume Rodriguez, M.L. Charles, Lilian Masarotto, A. Roule, Laurent Frey, C. Morales, R. Souil, V. Larrey

المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Département d'Optronique (DOPT), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Minalogic competitiveness pole, European Union FEDER, DGCIS national board for industry renewal

المصدر: Thin Solid Films
Thin Solid Films, Elsevier, 2017, 631, pp.23-28. ⟨10.1016/j.tsf.2017.03.055⟩
Thin Solid Films, 2017, 631, pp.23-28. ⟨10.1016/j.tsf.2017.03.055⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Thin films, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Direct bonding, 01 natural sciences, 010309 optics, [SPI]Engineering Sciences [physics], Interference (communication), 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Materials Chemistry, Wafer, Image sensor, Optical filter, Process characterization, Wavelength filtering devices, 010302 applied physics, CMOS sensor, Optical properties, Materials characterization, business.industry, Metals and Alloys, Surfaces and Interfaces, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Transmission (telecommunications), CMOS, Optoelectronics, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4727231aa5b4bf1768cdc97ae31e9489
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2017.03.055

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.