-
1
المؤلفون: E.-O. Andersen, K. van der Zanden, Y. Gong, L. Pescini, R. Allinger, R. Kakoschke, J.R. Power
المصدر: Solid-State Electronics. 52:550-556
مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, Electrical engineering, High voltage, Integrated circuit, Dielectric, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, law.invention, Flash (photography), Reliability (semiconductor), law, Materials Chemistry, Optoelectronics, Erasure, Electrical and Electronic Engineering, business, High-κ dielectric, Voltage
-
2
المؤلفون: H. Braun, Hans Jurgen Mattausch, R. Allinger, H. Baumgartner, M. Kerber
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 47:1251-1257
مصطلحات موضوعية: Materials science, Passivation, business.industry, Electrical engineering, Activation energy, Electron, Electronic, Optical and Magnetic Materials, law.invention, law, Thermal, Optoelectronics, Electrical and Electronic Engineering, EPROM, business, Leakage (electronics), EEPROM
-
3
المؤلفون: R. Allinger, K. Hofmann, Christian Peters, Mihail Jefremow, Doris Schmitt-Landsiedel, O. Bahlous, W. Allers, J. Otterstedt, S. Kassenetter, Thomas Kern
المصدر: ISSCC
مصطلحات موضوعية: Magnetoresistive random-access memory, Engineering, Microcontroller, CMOS, business.industry, Sense amplifier, Process (computing), Electronic engineering, Differential amplifier, business, AND gate, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::05c76096663ea66ebc6829293c263ecd
https://doi.org/10.1109/isscc.2013.6487706 -
4
المؤلفون: R. Duschl, R. Allinger, G. Tempel, Robert Strenz, R. Sikorski, F. Erler, G. Jaschke, R. Kakoschke, D. Shum, A. Duch, M. Canning, J.R. Power, M. Stiftinger
المصدر: 2009 IEEE International Memory Workshop.
مصطلحات موضوعية: Atomic layer deposition, Reliability (semiconductor), Materials science, CMOS, business.industry, Electronic engineering, Optoelectronics, Degradation (geology), Dielectric, business, Layer (electronics), Aluminum oxide, Deposition temperature
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a3dce08f52f6e4b37f93f6d773b418a0
https://doi.org/10.1109/imw.2009.5090578 -
5
المؤلفون: J. R. Power, D. Shum, Y. Gong, S. Bogacz, J. Haeupel, H. Estel, R. Strenz, R. Kakoschke, K. van der Zanden, R. Allinger, G. Jaschke
المصدر: 2008 Joint Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop and International Conference on Memory Technology and Design.
مصطلحات موضوعية: Flash (photography), chemistry.chemical_compound, Reliability (semiconductor), Materials science, Cellular array, chemistry, Electronic engineering, Oxide, Dielectric, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ab5caae74b8b452c6ac50be19954f317
https://doi.org/10.1109/nvsmw.2008.33 -
6
المؤلفون: K. van der Zanden, E.-O. Andersen, D. Shum, G. Tempel, W. Langheinrich, R. Allinger, R. Kakoschke, L. Pescini, Robert Strenz, J.R. Power, Y. Gong
المصدر: 2007 22nd IEEE Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop.
مصطلحات موضوعية: chemistry.chemical_compound, Materials science, chemistry, business.industry, Electrical engineering, Oxide, Optoelectronics, Dielectric, bacterial infections and mycoses, business, Aluminum oxide, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::55119629c3cfa088996776219afad3cd
https://doi.org/10.1109/nvsmw.2007.4290567 -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.