-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Vijay, A.S., Chandorkar, M.C., Doolla, S.
المصدر: IEEE Transactions on Industry Applications IEEE Trans. on Ind. Applicat. Industry Applications, IEEE Transactions on. 55(6):6538-6547 Jan, 2019
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Piotr Baniukiewicz
المصدر: Przegląd Spawalnictwa, Vol 85, Iss 12 (2013)
مصطلحات موضوعية: optimization, radiogram thresholding, RT testing, Technology (General), T1-995
وصف الملف: electronic resource