المؤلفون: Vijay, A.S., Chandorkar, M.C., Doolla, S.

المصدر: IEEE Transactions on Industry Applications IEEE Trans. on Ind. Applicat. Industry Applications, IEEE Transactions on. 55(6):6538-6547 Jan, 2019

المؤلفون: Piotr Baniukiewicz

المصدر: Przegląd Spawalnictwa, Vol 85, Iss 12 (2013)

مصطلحات موضوعية: optimization, radiogram thresholding, RT testing, Technology (General), T1-995

وصف الملف: electronic resource

Relation: http://pspaw.pl/index.php/pspaw/article/view/141; https://doaj.org/toc/0033-2364; https://doaj.org/toc/2449-7959

URL الوصول: https://doaj.org/article/d8fcc066337a4f798ba43defe42ba469