المؤلفون: Backhausen, U., Ballan, O., Bemardi, P., De Luca, S., Henzler, J., Kern, T., Piumatti, D., Rabenalt, T., Ramamoorthy, K.C., Sanchez, E., Sansonetti, A., Ullmann, R., Venini, F., Wiesner, R.

المصدر: 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2017 IEEE 23rd International Symposium on. :157-162 Jul, 2017

Relation: 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

المؤلفون: Rabenalt, T., Richter, M., Poehl, F., Goessel, M.

المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 31(6):950-957 Jun, 2012

المؤلفون: Rabenalt, T., Richter, M., Goessel, M.

المصدر: 2010 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS); 2010, p179-184, 6p

المؤلفون: Rabenalt, T., Goessel, M., Leininger, A.

المصدر: 2009 14th IEEE European Test Symposium; 2009, p149-154, 6p

المؤلفون: Faber, F.-U., Beck, M., Barondeau, O., Rabenalt, T., Gossel, M., Leininger, A.

المصدر: 2009 14th IEEE European Test Symposium; 2009, p39-44, 6p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.