المؤلفون: Cuadrado-Calle, D., Rea, S., Auriacombe, O., Oldfield, M., Parow-Souchon, K., Obeed, A., Klugmann, D., Rackauskas, B., Davis, B., Hunyor, P., Merritt, M., Phillips, M., Beardsley, M., Robins, W., Hampton, J., Brewster, N., Norbury, P., Cullum, A., Wang, H., Henry, M., Shepperd, A., Gerber, D., Howe, C., Burton, G., Marshall, A., Almond, T., Alves, D., Johnson, E., Aparicio, F., Moyna, B., Ellison, B. N., Thomas, B., Brandt, M., Philipp, M., Sonnabend, G., Stangier, T., Kilian, A., Trasatti, M., Hammett, R., Campbell, P., Kangas, V., Piironen, P.

المصدر: 2020 XXXIIIrd General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS), 2020 XXXIIIrd. :1-4 Aug, 2020

Relation: 2020 XXXIIIrd General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS)

المؤلفون: Rackauskas, B., Uren, M.J., Stoffels, S., Zhao, M., Decoutere, S., Kuball, M.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 65(5):1838-1842 May, 2018

المؤلفون: Rackauskas, B., Uren, M.J., Stoffels, S., Zhao, M., Bakeroot, B., Decoutere, S., Kuball, M.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 39(10):1580-1583 Oct, 2018

المؤلفون: Rackauskas, B., Uren, M.J., Kachi, T., Kuball, M.

المصدر: In Microelectronics Reliability April 2019 95:48-51

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.