-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Raley, Norman F., Van Duzer, Theodore
المصدر: Journal of Applied Physics; 7/1/1985, Vol. 58 Issue 1, p280, 7p, 1 Diagram, 4 Graphs
مصطلحات موضوعية: NONDESTRUCTIVE testing, SILICON, BULK solids, ELECTRON beams
-
2مؤتمر
المؤلفون: Raley, Norman F., Davidson, J. Courtney, Balch, Joseph W.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p40-45, 6p
-
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.