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1
المؤلفون: Böhm, Florian Maximilian
المساهمون: Schröder, Tim, Benson, Oliver, Budker, Dmitry
مصطلحات موضوعية: Stickstoff-Fehlstelle, Integrierte Schaltung, SRT, Einzelphoton, Physik, Photonik, NV, Rasterkraftmikroskop, ddc:530, Spin Manipulation, Integrated Circuit, Atomic Force Microscope, Raman, Confocal Microscope, Physics, PIC, Konfokalmikroskop, Optics, Nano, Spinmanipulation, 530 Physik, Quantum Optics, Nitrogen-Vacancy, Farbzentrum, Optik, Nanomanipulation, Photonics, STIRAP, AFM, Color Center, Single Photon, Quantenoptik
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______133::c51c3eb656398518dd9e8682811899d4
http://edoc.hu-berlin.de/18452/26880 -
2
المؤلفون: Müller, Konstantin
مصطلحات موضوعية: 2D-Profilometer, Schichtdickenanalyse, atomic force microscope, Thickness analysis, Rasterkraftmikroskop, Oberflächenmessung, 3D-Profilometer, 2D profilometer, 3D profilometer, Surface measurement
وصف الملف: kein Volltext verfügbar
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10650::3ee64253b58045503016f68195c89119
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3
المؤلفون: Mehringer, Christian Felix
مصطلحات موضوعية: DNS-Reparatur, Rasterkraftmikroskop, ddc:576, Biegewinkel, Computerprogramm, Glykosylasen
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______713::974ab9d75355d4419c8f4345bb3aa1b7
https://opus.bibliothek.uni-wuerzburg.de/frontdoor/index/index/docId/23084 -
4
المؤلفون: Riesenhuber, Christof Andreas
مصطلحات موضوعية: Demonstrationsexperiment, atomic force microscope, Rasterkraftmikroskop, experiment for demonstration, Non Contact Mode, AFM
وصف الملف: Illustrationen
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3361::717224f878f38935a4c621b701fba7d9
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5دورية أكاديمية
المؤلفون: Steininger, J., Kuiper, S., Ito, S., Schitter, G.
المصدر: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik. January 2012 129(1):28-33
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6دورية أكاديمية
المؤلفون: Arminger, B., Adamsmair, S., Kienberger, F., Hinterdorfer, P., Zagar, B. G.
المصدر: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik. March 2008 125(3):86-91
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7
المؤلفون: Kunzmann, Christina
مصطلحات موضوعية: Stoffeigenschaft, Strukturanalyse, Polyacrylnitrilfaser, Rasterkraftmikroskop, ddc:530, Kohlenstofffaser, Oberflächenstruktur
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3341::40212bef09a7c19fd5c5cdfceb72ee3e
https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/68734 -
8
المؤلفون: Bartonek, Florian
مصطلحات موضوعية: Untersuchung, investigation, photonic sintering, Rasterkraftmikroskop, Nanopartikel, photonische Sinterung, nanoparticles, AFM, Atomic Force Microscope
وصف الملف: kein Volltext verfügbar
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10650::7ba0beff875a27c8073d9b09f4dc78d0
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9
المؤلفون: Dehnert, Martin
المساهمون: Magerle, Robert, Tegenkamp, Christoph, Technische Universität Chemnitz
مصطلحات موضوعية: Polymeroberflächen, Polystyrol, Quellverhalten, Graphenoxid, Rasterkraftmikroskop, MUSIC-Modus AFM, dreidimensionales Tiefenprofil, Kraft-Abstands-Kurve, ddc:530, Rasterkraftmikroskopie, Polystyrol, Graphenoxid
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______218::9d383e46e08c16d9a97e12f4bb473599
https://monarch.qucosa.de/id/qucosa:21547 -
10
المؤلفون: Stainer, Sarah
مصطلحات موضوعية: Erythrocyte, rhesus factor, Erythrozyt, Rhesusfaktor, atomic force microscope, Rasterkraftmikroskop, rote Blutkörperchen, red blood cell, AFM, TREC
وصف الملف: Illustrationen
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3361::1baf8d1b0add6e73e484c271b691253e