-
1مؤتمر
المؤلفون: Thieu, G.B., Gesper, S., Paya-Vaya, G., Riggers, C., Renke, O., Fiedler, T., Marten, J., Stuckenberg, T., Blume, H., Weis, C., Steiner, L., Sudarshan, C., Wehn, N., Reimann, L.M., Leupers, R., Beyer, M., Kohler, D., Jauch, A., Borrmann, J.M., Jaberansari, S., Berthold, T., Blawat, M., Kock, M., Schewior, G., Benndorf, J., Kautz, F., Bluethgen, H.-M., Sauer, C.
المصدر: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023. :1-6 Apr, 2023
Relation: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Sisejkovic, D., Merchant, F., Reimann, L.M., Leupers, R.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 41(6):1716-1729 Jun, 2022
-
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.