المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS2070205124701429_cor1}, Sokurov, A. A., Murga, Z. V.

المصدر: Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces. :1-4

المؤلفون: Al’tudov, Yu. K.^{Aff1, IDS1063739723700762_cor1}, Gaev, D. S., Pskhu, A. V., Rekhviashvili, S. Sh.

المصدر: Russian Microelectronics. 52(6):510-516

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDs1118202302871x_cor1}

المصدر: Russian Physics Journal. 65(12):2058-2067

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS1063739722050079_cor1}

المصدر: Russian Microelectronics. 51(5):311-317

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS1063785022020055_cor1}, Pskhu, A. V.

المصدر: Technical Physics Letters. 48(2):35-38

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS1063785022020067_cor1}, Pskhu, A. V., Margushev, Z. Ch.

المصدر: Technical Physics Letters. 48(2):39-42

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS0030400X22010118_cor1}, Gaev, D. S., Margushev, Z. Ch.

المصدر: Optics and Spectroscopy. 130(1):23-27

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS0030400X22010106_cor1}, Strek, W.^{Aff2, IDS0030400X22010106_cor2}

المصدر: Optics and Spectroscopy. 130(1):18-22

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^Aff1, Gaev, D. S., Boyko, A. N.

المصدر: Russian Microelectronics. 50(5):347-352

المؤلفون: Rekhviashvili, S. Sh.^{Aff1, IDS1063782621070149_cor1}, Bukhurova, M. M.

المصدر: Semiconductors. 55(7):621-624