المؤلفون: Yue, P., An, J., Zhang, J., Ye, J., Pan, G., Wang, S., Xiao, P., Hanzo, L.

المصدر: IEEE Communications Surveys & Tutorials IEEE Commun. Surv. Tutorials Communications Surveys & Tutorials, IEEE. 25(3):1604-1652 Jan, 2023

المؤلفون: Sakriwala, Taher Saifuddin, Pandey, Vikas, Raveendran, Ranjith Kumar Sreenilayam

المصدر: 2020 International Conference on Computational Performance Evaluation (ComPE) Computational Performance Evaluation (ComPE), 2020 International Conference on. :350-354 Jul, 2020

Relation: 2020 International Conference on Computational Performance Evaluation (ComPE)

المؤلفون: Sadi, Muhammad Sheikh, Myers, D. G., Sanchez, Cesar Ortega, Jurjens, Jan

المصدر: TENCON 2009 - 2009 IEEE Region 10 Conference. :1-6 Nov, 2009

Relation: TENCON 2009 - 2009 IEEE Region 10 Conference

المؤلفون: Sadi, Muhammad Sheikh^Aff1, Ahmed, Waseem, Jürjens, Jan

المصدر: SN Computer Science. 2(2)

المؤلفون: Liudmyla Prystupa

المصدر: Економіка, Eкологія, Cоціум, Vol 2, Iss 2, Pp 52-66 (2018)

مصطلحات موضوعية: insurance company, competitiveness, economic base, administrative activity, methods of estimation, indexes, financial reliability, risks, dominants, Ecology, QH540-549.5, Economics as a science, HB71-74

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://ees-journal.com/index.php/journal/article/view/65; https://doaj.org/toc/2616-7107

URL الوصول: https://doaj.org/article/cc92b9faf26e476cbc7834c91eac190e

المؤلفون: Helene Conseil-Gudla, Michael H. Azarian, Ilknur Baylakoğlu, Michael Pecht, Aleksandra Fortier, Rajan Ambat, San Kyeong

المصدر: Baylakoğlu, İ, Fortier, A, Kyeong, S, Ambat, R, Gudla, H C, H. Azarian, M & G. Pecht, M 2021, ' The detrimental effects of water on electronic devices ', e-Prime-Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy, vol. 1, no. 1, 100016 . https://doi.org/10.1016/j.prime.2021.100016

مصطلحات موضوعية: Effects of water, Exposure of electronics to underwater environments, Computer science, Vapor phase, Humidity, Reliability risks, Electronic packaging, Reliability engineering, Reliability (semiconductor), Electronics, Wettability in electronics, Moisture, Degradation (telecommunications)

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::241c1628f61c3fd0b5bbfa235c5f51e5
https://orbit.dtu.dk/en/publications/3af187f7-63ee-4e71-a529-b0ac5c6fb80b

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المصدر: Вестник Южно-Уральского государственного университета. Серия: Экономика и менеджмент.

مصطلحات موضوعية: ЭКОНОМИЧЕСКАЯ НАДЕЖНОСТЬ,РИСКИ,ECONOMIC RELIABILITY,RISKS

وصف الملف: text/html

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::66b723f15c0b1d9d9ad37d6a7fff8241
http://cyberleninka.ru/article_covers/16901066.png

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.