المؤلفون: Morilla, A, Lopez, Jg, Battistig, G, Cantin, Jean-Louis, Cheang-Wong, Jc, von Bardeleben, Jurgen, Respaldiza, Ma

المساهمون: Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Nipoti, R and Poggi, A and Scorzoni

المصدر: 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials
5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Aug 2004, Bologna, Unknown Region. pp.291-294

مصطلحات موضوعية: silicon carbide, radiation damage, ion implantation, backscattering spectrometry, [PHYS.COND]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2417::61de0386a08708840c52a83db9642572
https://hal.science/hal-01288836

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.