المؤلفون: Mazza, B., Cordiano, F., Boscaglia, M., Scuderi, V., Frazzica, M., Ricciari, R., Poma, M., Gagliano, C., Patane, S.

المصدر: 2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2021 IEEE International Symposium on the. :1-6 Sep, 2021

Relation: 2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

المؤلفون: Ferlito, E. P., Pizzo, G., De Gregorio, R., Anastasi, G., Ricciari, R., Mello, D.

المصدر: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International. :5B.3.1-5B.3.7 Apr, 2013

Relation: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Ricciari, R., Ferlito, E.P., Pizzo, G., Padalino, M., Anastasi, G., Sacchi, M., Pappalardo, G., Consalvo, C., Mello, D.

المصدر: In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1617-1621

المؤلفون: Mello, D., Ricciari, R., Battaglia, A., Foti, M., Gerardi, C.

المصدر: In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1800-1803

المؤلفون: Ricciari, R., Bertini, M., Ferlito, E.P., Pizzo, G., Anastasi, G., Mello, D., Franco, G.

المصدر: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B April 2007 257(1-2):257-260

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Ferlito, E. P., Ricciari, R., Padalino, M., Grasso, S., Battaglia, A., Sciuto, M., Mello, D., Tapfer, L., Gerardi, C.

المصدر: Surface & Interface Analysis: SIA; Oct/Nov2014, Vol. 46 Issue 10/11, p823-826, 4p

مصطلحات موضوعية: ZINC spectra, MAGNESIUM spectra, X-ray diffraction, AUGER electron spectroscopy, TIME-of-flight spectrometry, SOLAR cells

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.