-
1
المؤلفون: Y. Wu, F. Cai, L. Thomas, T. Liu, A. Nourbakhsh, J. Hebding, E. Smith, R. Quon, R. Smith, A. Kumar, A. Pang, J. Holt, R. Someshwar, F. Nardi, J. Anthis, S-H. Yen, C. Chevallier, A. Uppala, X. Chen, N. Breil, T. Sherwood, K. Wong, W. Cho, D. Thompson, J. Hsu, B. Ayyagari, S. Krishnan, Wei. D. Lu, M. Chudzik
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b5f5f6ac540023956c451cc3da089c12
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019450 -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.