-
1
المؤلفون: F. Buscemi, E. Piccinini, L. Vandelli, F. Nardi, A. Padovani, B. Kaczer, D. Garbin, S. Clima, R. Degraeve, G. S. Kar, F. Tavanti, A. Slassi, A. Calzolari, L. Larcher
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 70:1808-1814
مصطلحات موضوعية: Mathematical models, Germanium, Switches, Performance evaluation, Material properties, Hydrodynamics, Electron traps, Hydrodynamic, ovonic, ovonic threshold switching (OTS), trap-assisted-tunneling, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Electrical and Electronic Engineering
-
2
المؤلفون: M.I. Popovici, J. Bizindavyi, P. Favia, S. Clima, Md. Nur K. Alam, R.K. Ramachandran, A.M. Walke, U. Celano, A. Leonhardt, S. Mukherjee, O. Richard, A. Illiberi, M. Givens, R. Delhougne, J. Van Houdt, G. Sankar Kar
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cfbc22df6cf2cf53c1ca447f4a7b9f34
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019525 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: D. Matsubayashi, S. Clima, T. Ravsher, D. Garbin, R. Delhougne, G. S. Kar, G. Pourtois
المصدر: International Electron Devices Meeting (IEDM), DEC 03-07, 2022, San Francisco, CA
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM)مصطلحات موضوعية: Technology, Chemistry, Science & Technology, Engineering, Engineering, Electrical & Electronic
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ae667ee5304fceaf2b895ad686eeb9af
https://hdl.handle.net/10067/1967070151162165141 -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.