-
1
المؤلفون: S. Mouleres, S. Chevalliez, L. Dantas de Morais
المصدر: Microelectronics Reliability. 54:1802-1805
مصطلحات موضوعية: Materials science, Metallurgy, chemistry.chemical_element, Condensed Matter Physics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Ion, Cross section (physics), chemistry, Melting point, Vacuum chamber, Electrical and Electronic Engineering, Composite material, Safety, Risk, Reliability and Quality, Indium, Eutectic system
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.