-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: S. Steck, P. Went, R. Cathomas, D. Kienle
المصدر: Current Problems in Cancer: Case Reports, Vol 3, Iss , Pp 100045- (2021)
مصطلحات موضوعية: Squamous cell cancer of the penis, Penile cancer, Immunotherapy, HPV positive, Metastatic, Recurrence, Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens, RC254-282
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: R. Cathomas, D. Kienle, P. Went, S. Steck
المصدر: Current Problems in Cancer: Case Reports, Vol 3, Iss, Pp 100045-(2021)
مصطلحات موضوعية: Oncology, medicine.medical_specialty, Penile squamous cell carcinoma, Immune checkpoint inhibitors, medicine.medical_treatment, Pembrolizumab, Squamous cell cancer of the penis, Recurrence, Internal medicine, medicine, In patient, HPV positive, RC254-282, General Environmental Science, business.industry, Standard treatment, General Engineering, Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens, Immunotherapy, Penile cancer, General Earth and Planetary Sciences, Metastatic, First line chemotherapy, business, Rare disease
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4
المؤلفون: S. Steck, Klaus Thonke, W. Ulrici, G. Rückert, R. Sauer
المصدر: Materials Science Forum. :731-736
مصطلحات موضوعية: Photoluminescence, Materials science, Mechanics of Materials, business.industry, Mechanical Engineering, Optoelectronics, General Materials Science, Condensed Matter Physics, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c2a04c54243445fc872fff9bf553cf63
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.196-201.731 -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: S. Steck, M. McLaren, Siqun Xiao, U. Bohmler, T. Reuter, R. Howland Pinto
المصدر: 10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295).
مصطلحات موضوعية: Process variation, Engineering, Laser scanning, CPU cache, business.industry, Electronic engineering, Microelectronics, Optoelectronics, Wafer, Sensitivity (control systems), business, AND gate, Die (integrated circuit)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6517b616f0f6af87141d10c3fad349d6
https://doi.org/10.1109/asmc.1999.798253 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.