-
1
المؤلفون: M.J. Rye, G.P. Salazar, S. Silverman, S.N. Ball, M. DiBattista, B.S. Phillips, R.J. Shul
المصدر: International Symposium for Testing and Failure Analysis.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Silicon, chemistry, Forensic engineering, chemistry.chemical_element, Engineering physics
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ee01deaf007dcd0de128060c1b69bd44
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2017p0246 -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.