-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Bououbeid, El MoustaphaAff1, Aff2, Yahya, Ahmed MohamedAff2, IDs40808023018240_cor2, Samb, Mamadou Lamine, Rehman, Shafiqur, Mahmoud, Abdel Kader, Menezo, Christophe
المصدر: Modeling Earth Systems and Environment. 10(1):969-981
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية
المؤلفون: Bououbeid, El Moustapha, Yahya, Ahmed Mohamed, Samb, Mamadou Lamine, Rehman, Shafiqur, Mahmoud, Abdel Kader, Menezo, Christophe
المصدر: Modeling Earth Systems and Environment; 20230101, Issue: Preprints p1-13, 13p
-
4
المؤلفون: Samb, Mamadou Lamine, Dong, Hanpeng, Jacques, Emmanuel, Sissoko, G., Seidou-Maiga, A, Mohammed-Brahim, Tayeb
المساهمون: Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Conference on Thin Film Transistors ITC 2015
Conference on Thin Film Transistors ITC 2015, Feb 2015, Rennes, Franceمصطلحات موضوعية: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a787912aa7a530d1d79c53d76234a3cf
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01121706 -
5
المؤلفون: Samb, Mamadou Lamine
المساهمون: Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Rennes 1, Tayeb Mohammed-Brahim, Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Rennes 1, 2014. Français. ⟨NNT : ⟩
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Rennes 1, 2014. Françaisمصطلحات موضوعية: Interfaces state, Couche active, Active layer, Modélisation, Microcrystalline silicon, Transistors en couches minces Silicium cristallisé, Modeling, État d'interfaces, Silicium microcristallin, Silvaco, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Top-Gate TFT
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4ae705b13b88d7ed2a05dcddd7c8efa4
https://hal.science/tel-02441294 -
6
المؤلفون: Samb, Mamadou Lamine
المساهمون: Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Rennes 1, Tayeb Mohammed-Brahim
المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Rennes 1, 2014. Français
مصطلحات موضوعية: Interfaces state, Couche active, Active layer, Modélisation, Microcrystalline silicon, Transistors en couches minces Silicium cristallisé, Modeling, État d'interfaces, Silvaco, Silicium microcristallin, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Top-Gate TFT
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::4ae705b13b88d7ed2a05dcddd7c8efa4
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-02441294 -
7
المؤلفون: Samb, Mamadou Lamine, Jacques, Emmanuel, Kandoussi, Khalid, Belarbi, Khaled, Coulon, Nathalie, Mohammed-Brahim, Tayeb
المساهمون: Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ECS Transactions
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2012, 49 (1), pp.59-67
ECS Transactions, 2012, 49 (1), pp.59-67مصطلحات موضوعية: ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
-
8دورية
المؤلفون: Samb, Mamadou Lamine, Dong, HanPeng, Jacques, Emmanuel, Sissoko, Gregoire, Seidou Maiga, Ahmadou, Mohammed-Brahim, Tayeb
المصدر: ECS Transactions; August 2014, Vol. 64 Issue: 10