-
1مؤتمر
المؤلفون: Salzman, J., Samid, I.
المصدر: Proceedings of 19th Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel Electrical and electronic engineering Electrical and Electronics Engineers in Israel, 1996., Nineteenth Convention of. :531-536 1996
Relation: Proceedings of 19th Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Yasin, M., Samid, I., Engelman, Z., Fekete, D.
المصدر: IEEE Journal of Quantum Electronics IEEE J. Quantum Electron. Quantum Electronics, IEEE Journal of. 41(9):1105-1114 Sep, 2005
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Gilor, J., Samid, I., Fekete, D.
المصدر: IEEE Journal of Quantum Electronics IEEE J. Quantum Electron. Quantum Electronics, IEEE Journal of. 40(10):1355-1364 Oct, 2004
-
4مؤتمر
المؤلفون: Gilor, J., Blumin, M., Samid, I., Fekete, D.
المصدر: Conference Digest. 15th IEEE International Semiconductor Laser Conference Semiconductor laser Semiconductor Laser Conference, 1996., 15th IEEE International. :95-96 1996
Relation: Conference Digest. 15th IEEE International Semiconductor Laser Conference
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Ng, W., Yen, H.W., Katzir, A., Samid, I., Yariv, A.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 23(11):1251-1251 Nov, 1976
-
7كتاب إلكتروني
المؤلفون: Gamo, K.Aff2, Inada, T.Aff2, Samid, I.Aff2, Lee, C. P.Aff2, Mayer, J. W.Aff2
المساهمون: Meyer, O., editorAff1, Linker, G., editorAff1, Käppeler, F., editorAff1
المصدر: Ion Beam Surface Layer Analysis : Volume 1. :375-384
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, C. P., Gover, A., Margalit, S., Samid, I., Yariv, A.
المصدر: Applied Physics Letters; May1977, Vol. 30 Issue 10, p535-538, 4p
-
9دورية
المؤلفون: Lee, C. P., Gover, A., Margalit, S., Samid, I., Yariv, A.
المصدر: Applied Physics Letters; May 1977, Vol. 30 Issue: 10 p535-538, 4p
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Ng, W., Yen, H. W., Katzir, A., Samid, I., Yariv, A.
المصدر: Applied Physics Letters; Nov1976, Vol. 29 Issue 10, p684-686, 3p