يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"San Min, Michael Yap"', وقت الاستعلام: 0.69s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Process variabilites and performances in a 90nm embedded SRAM

    المؤلفون: San Min, Michael Yap, Maurine, Philippe, Bastian, Magali, Robert, Michel

    المصدر: 2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report Integrated Reliability Workshop Final Report, 2007. IRW 2007. IEEE International. :135-138 Oct, 2007

    Relation: 2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء