-
1مؤتمر
المؤلفون: Jain, P., Thourwal, A., Bansal, S., Gupta, N., Kumar, S., Singh, A. K., Samanta, S., Sardana, N.
المصدر: 2017 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMaRC) Microwave and RF Conference (IMaRC), 2017 IEEE MTT-S International. :1-5 Dec, 2017
Relation: 2017 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMaRC)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Bansal, S., Das, A., Jain, P., Prakash, K., Sharma, K., Kumar, N., Sardana, N., Gupta, N., Kumar, S., Singh, A.K.
المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 18:781-789 2019
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Sardana, N., Cohen, R., Zhang, J., Chen, S.
المصدر: IEEE Transactions on Computational Social Systems IEEE Trans. Comput. Soc. Syst. Computational Social Systems, IEEE Transactions on. 5(4):995-1008 Dec, 2018
-
4مؤتمر
المؤلفون: Cohen, R., Sardana, N., Rahim, K., Lam, D.Y., Li, M., Maccarthy, O., Woo, E., Zhang, J., Guo, G.
المصدر: 2013 12th International Conference on Machine Learning and Applications Machine Learning and Applications (ICMLA), 2013 12th International Conference on. 2:445-450 Dec, 2013
Relation: 2013 12th International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Ulyana D. Antipina, Sardana V. Markova, Natalia V. Borisova, Sardana N. Alekseeva, Irina Sh. Malogulova, Tyuaara P. Sivtseva, Vera N. Yadrikhinskaya, Evgenia E. Yadrikhinskaya
المصدر: International Journal of Biomedicine, Vol 9, Iss 3, Pp 220-222 (2019)
وصف الملف: electronic resource
Relation: http://ijbm.org/articles/i35/ijbm_9(3)_oa6.pdf; https://doaj.org/toc/2158-0510; https://doaj.org/toc/2158-0529
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.