يعرض 1 - 10 نتائج من 7,609 نتيجة بحث عن '"Sato, F"', وقت الاستعلام: 1.62s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
  3. 3
  4. 4
  5. 5
  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: Proceedings of the IEEE Proc. IEEE Proceedings of the IEEE. 110(11):1760-1771 Nov, 2022

  7. 7
    تقرير

    المؤلفون: Double Chooz Collaboration, de Kerret, H., Abe, Y., Aberle, C., Abrahão, T., Ahijado, J. M., Akiri, T., Alarcón, J. M., Alba, J., Almazan, H., Anjos, J. C. dos, Appel, S., Ardellier, F., Barabanov, I., Barriere, J. C., Baussan, E., Baxter, A., Bekman, I., Bergevin, M., Bernstein, A., Bertoli, W., Bezerra, T. J. C., Bezrukov, L., Blanco, C., Bleurvacq, N., Blucher, E., Bonet, H., Bongrand, M., Bowden, N. S, Brugière, T., Buck, C., Avanzini, M. Buizza, Busenitz, J., Cabrera, A., Calvo, E., Camilleri, L., Carr, R., Cazaux, S., Cela, J. M., Cerrada, M., Chang, P. J., Charon, P., Chauveau, E., Chimenti, P., Classen, T., Collin, A. P., Conover, E., Conrad, J. M, Cormon, S., Corpace, O., Courty, B., Crespo-Anadón, J. I., Cribier, M., Crum, K., Cuadrado, S., Cucoanes, A., D'Agostino, M., Damon, E., Dawson, J. V., Dazeley, S., Dierckxsens, M., Dietrich, D., Djurcic, Z., Dorigo, F., Dracos, M., Durand, V., Efremekov, Y., Elnimr, M., Etenko, A., Falk, E., Fallot, M., Fechner, M., Felde, J., Fernandes, S. M., Fernández-Bedoya, C., Francia, D., Franco, D., Fischer, V., Franke, A. J., Franke, M., Furuta, H., Garcia, F., Garcia, J., Gil-Botella, I., Giot, L., Givaudan, A., Göger-Neff, M., Gomez, H., Gonzalez, L. F. G., Goodenough, L., Goodman, M. C., Goon, J., Gramlich, B., Greiner, D., Guertin, A., Guillon, B., Habib, S. M., Haddad, Y., Hara, T., Hartmann, F. X., Hartnell, J., Haser, J., Hatzikoutelis, A., Hellwig, D., Hervé, S., Hofacker, R., Horton-Smith, G., Hourlier, A., Ishitsuka, M., Jänner, K., Jiménez, S., Jochum, J., Jollet, C., Kaether, F., Kale, K., Kalousis, L., Kamyshkov, Y., Kaneda, M., Kaplan, D. M., Karakac, M., Kawasaki, T., Kemp, E., Kibe, Y., Kirchner, T., Konno, T., Kryn, D., Kutter, T., Kuze, M., Lachenmaier, T., Lane, C. E., Langbrandtner, C., Lasserre, T., Lastoria, C., Latron, L., Leonardo, C., Letourneau, A., Lhuillier, D., Lima Jr, H. P., Lindner, M., López-Castaño, J. M., LoSecco, J. M., Lubsandorzhiev, B., Lucht, S., Maeda, J., Maesano, C. N., Mariani, C., Maricic, J., Marie, F., Martinez, J. J., Martino, J., Matsubara, T., McKee, D., Meigner, F., Mention, G., Meregaglia, A., Meyer, J. P., Miletic, T., Milincic, R., Millot, J. F., Minotti, A., Mirones, V., Miyata, H., Mueller, Th. A., Nagasaka, Y., Nakajima, K., Navas-Nicolás, D., Nikitenko, Y., Novella, P., Oberauer, L., Obolensky, M., Onillon, A., Oralbaev, A., Ostrovskiy, I., Palomares, C., Peeters, S. J. M., Pepe, I. M., Perasso, S., Perrin, P., Pfahler, P., Porta, A., Pronost, G., Puras, J. C., Quéval, R., Ramirez, J. L., Reichenbacher, J., Reinhold, B., Reissfelder, M., Remoto, A., Reyna, D., Rodriguez, I., Röhling, M., Roncin, R., Rudolf, N., Rybolt, B., Sakamoto, Y., Santorelli, R., Sato, F., Schwan, U., Scola, L., Settimo, M., Schönert, S., Schoppmann, S., Shaevitz, M. A., Sharankova, R., Sibille, V., Sida, J. L., Sinev, V., Shrestha, D., Skorokhvatov, M., Soldin, P., Spitz, J., Stahl, A., Stancu, I., Starzynski, P., Stock, M. R., Stokes, L. F. F., Strait, M., Stüken, A., Suekane, F., Sukhotin, S., Sumiyoshi, T., Sun, Y., Sun, Z., Svoboda, R., Tabata, H., Tamura, N., Terao, K., Tonazzo, A., Toral, F., Toups, M., Thi, H. Trinh, Valdivia, F., Valdiviesso, G., Vassilopoulos, N., Verdugo, A., Veyssiere, C., Viaud, B., Vignaud, D., Vivier, M., Wagner, S., Wiebusch, C., White, B., Winslow, L., Worcester, M., Wurm, M., Wurtz, J., Yang, G., Yáñez, J., Yermia, F., Zbiri, K.

    المصدر: Eur.Phys.J. C (2022) 82:804

    مصطلحات موضوعية: Physics - Instrumentation and Detectors

  8. 8
  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Kirimura, M., Akiyama, Y., Sato, F.

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 30(4):1-5 Jun, 2020

  10. 10
    مؤتمر

    المصدر: 2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP) Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP), 2017 IEEE Conference on. :58-61 Oct, 2017

    Relation: 2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP)