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المؤلفون: Fischer, Michael
المساهمون: Gross, Rudolf (Prof. Dr.), Finley, Jonathan J. (Prof., Ph.D.)
مصطلحات موضوعية: Physik, circuit quantum electro dynamics, quantum circuits, superconductivity, quantum simulation, Bose-Hubbard model, manybody physics, Schaltkreis-Quantenelektrodynamik, Quantenschaltkreise, Supraleitung, Quantensimulation, Bose-Hubbard-Model, Vielteilchenphysik, ddc:530
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______518::8e69f59e28dae23fb14e771798a64bd3
https://mediatum.ub.tum.de/doc/1624248/document.pdf -
2
المؤلفون: Becker, Steffen (Dr.-Ing.)
مصطلحات موضوعية: Hardware, Faktor Mensch, ddc:621.3, Verschleierung, Integrierter Schaltkreis, 621.3 Elektrotechnik, Elektronik, Reverse engineering
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c403cecece40b487d14970ad95296375
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3دورية أكاديمية
المؤلفون: Grabner, C.
المصدر: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik. May 2007 124(5):158-165
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المؤلفون: Strasser, Nichil
مصطلحات موضوعية: Fahrzeug Ad-hoc Netzwerk (VANET), CAN, Integrated circuit, Mobile ad-hoc network (MANET), Intelligent Transport System, V2V, Mobiles Ad-hoc Netzwerk (MANET), V2X, Integrierter Schaltkreis, Intelligentes Transport System, V2R, Vehicular ad-hoc network (VANET), V2C
وصف الملف: kein Volltext verfügbar
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5Quantitative Comparison of the Sensitivity of Delay-Insensitive Design Templates to Transient Faults
المؤلفون: Behal, Patrick
مصطلحات موضوعية: Fehlerinjektion, 4-phase, PYPR, fault injection, 4-Phasen, Fehlertoleranz, quantitative comparison, delay insensitive, quantitativer Vergleich, fault-tolerance assessment, transient fault, dual-rail, Glitch, asynchronous circuit, single event transient, verzögerungsunempfindliche Schaltkreise, Single Event Upset, Asynchroner Schaltkreis
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bf4ca60e0f45943b1c29b07328c449e1
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6
المؤلفون: Ritter, Matthias Martin
المساهمون: Pfost, Martin, Schulze, Jörg
مصطلحات موضوعية: On-Chip-Metallisierung, Alterung, Zyklische Last, Sensoren, Integrierter Schaltkreis
وصف الملف: application/vnd.openxmlformats-officedocument.wordprocessingml.document
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7
المؤلفون: Bhutani, Akanksha
المساهمون: Zwick, T.
مصطلحات موضوعية: Surface-mounted device, Integrierter-Schaltkreis-Gehäusekonzept, oberflächenmontiertes Bauelement, LTCC-Mehrlagen-Keramiktechnologie, Integrated-circuit packaging concept, Millimeterwellensystem, Millimeterwave system, Hardware_GENERAL, FMCW Radar, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, LTCC multilayered ceramic technology, ddc:620, Engineering & allied operations
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::17f952b99c32cea908fd22168471e941
https://publikationen.bibliothek.kit.edu/1000095763/41999976 -
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المؤلفون: Heinzig, André
المساهمون: Mikolajick, Thomas, Weber, Walter M., Kreupl, Franz, Technische Universität Dresden
مصطلحات موضوعية: ddc:621.3, RFET, transistor, reconfigurable, programmable, unipolar, dopant free CMOS technology, universal transistor, nanowire, semiconductor, Schottky barrier, ambipolar, silicon, silicidation, nanoelectronics, novel logic, inverter, reconfigurable NAND/NOR, electron beam lithography, RFET, Transistor, rekonfigurierbar, programmierbar, unipolar, dotierstofffreie CMOS-Technologie, universaler Transistor, Nanowire, Nanodraht, Halbleiter, Schottkybarriere, ambipolar, Silizium, Silizidierung, Nanoelektronik, neuartige Logik, Inverter, rekonfigurierbarer NAND/NOR-Schaltkreis, Elektronenstrahllithographie, RFET, Transistor, rekonfigurierbar, programmierbar, unipolar, dotierstofffreie CMOS-Technologie, universaler Transistor, Nanowire, Nanodraht, Halbleiter, Schottkybarriere, ambipolar, Silizium, Silizidierung, Nanoelektronik, neuartige Logik, Inverter, rekonfigurierbarer NAND/NOR-Schaltkreis, Elektronenstrahllithographie
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4179::93158aa89c384b66598ec346d38860cd
https://tud.qucosa.de/id/qucosa:29458 -
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