-
1تقرير
المؤلفون: Chien, Miao-Hsuan, Shawrav, Mostafa M., Hingerl, Kurt, Taus, Philipp, Schinnerl, Markus, Wanzenboeck, Heinz D., Schmid, Silvan
مصطلحات موضوعية: Physics - Optics, Physics - Instrumentation and Detectors
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2010.11618
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Lancaster, Suzanne, Kriz, Martin, Schinnerl, Markus, MacFarland, Donald, Zederbauer, Tobias, Andrews, Aaron Maxwell, Schrenk, Werner, Strasser, Gottfried, Detz, Hermann
المصدر: In Microelectronic Engineering 5 June 2017 177:93-97
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Chien, Miao-Hsuan, Shawrav, Mostafa M., Hingerl, Kurt, Taus, Philipp, Schinnerl, Markus, Wanzenboeck, Heinz D., Schmid, Silvan
المصدر: Journal of Applied Physics; 2/14/2021, Vol. 129 Issue 6, p1-8, 8p
مصطلحات موضوعية: CARBON analysis, GOLD nanoparticles, CONTENT analysis, MICROSCOPY, ANALYTICAL chemistry, LIGHT absorption
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Schuller, Patrick, Rothbauer, Mario *, Kratz, Sebastian R.A., Höll, Gregor, Taus, Phillipp, Schinnerl, Markus, Genser, Jakob, Bastus, Neus, Moriones, Oscar H., Puntes, Victor, Huppertz, Berthold, Siwetz, Monika, Wanzenböck, Heinz **, Ertl, Peter *
المصدر: In Sensors and Actuators: B. Chemical 1 June 2020 312
-
6مورد إلكتروني
المؤلفون: European Commission, Schuller, Patrick, Rothbauer, Mario, Kratz, Sebastian R. A., Höll, Gregor, Taus, Phillipp, Schinnerl, Markus, Genser, Jakob, Bastús, Neus G., Moriones, Oscar Hernando, Puntes, Víctor F., Huppertz, Berthold, Siwetz, Monika, Wanzenböck, Heinz, Ertl, Peter
مصطلحات الفهرس: artículo
URL:
http://hdl.handle.net/10261/233621 https://doi.org/10.1016/j.snb.2020.127946 https://doi.org/10.1016/j.snb.2020.127946
Sí
info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020/685817 -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9
المؤلفون: Schuller, Patrick, Rothbauer, Mario ⁎, Eilenberger, Christoph, Kratz, Sebastian R.A., Höll, Gregor, Taus, Philipp, Schinnerl, Markus, Genser, Jakob, Ertl, Peter ⁎, Wanzenboeck, Heinz ⁎
المصدر: In MethodsX 2019 6:2606-2613
-
10
المؤلفون: Shawrav, Mostafa Moonir, Wanzenboeck, Heinz D., Belic, Domagoj, Gavagnin, Marco, Bethge, Ole, Schinnerl, Markus, Bertagnolli, Emmerich
مصطلحات موضوعية: atomic layer deposition, capacitance–voltage characteristics, focused electron beam induced deposition, gold, MOS capacitors
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=57a035e5b1ae::ae352fb400d307818b817b09073da5df
https://doi.org/10.1002/pssa.201330133