يعرض 1 - 10 نتائج من 7,708 نتيجة بحث عن '"Self heating"', وقت الاستعلام: 2.06s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Asymmetry Degradation Behavior Under Forward and Backward Overlap Dynamical Stress in Large-Size Amorphous InGaZnO TFT

    المؤلفون: Duan, R., Zou, Z., Xu, Z., Zhang, H., Shao, X., Zhang, D., Wang, Z., Zeng, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(9):5443-5449 Sep, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Investigation and Subcircuit Modeling of Self-Heating in PDSOI NFETs at Cryogenic Temperatures Using Pulsed I – V Technique for Co-Integrated Quantum Technologies

    المؤلفون: Gupta, S., Sharma, D., Amin, A., Srinivasan, P., Restrepo, O.D., Dixit, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(9):5190-5197 Sep, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Extraction of the Thermal Resistance and the Thermal Capacitance of GaN Power HEMTs by Using Pulsed I–V Measurements

    المؤلفون: Reiner, R., Nambiar, A.G., Basler, M., Monch, S., Waltereit, P., Quay, R.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(9):5270-5274 Sep, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    A Novel Neural Network-Based Transistor Compact Model Including Self-Heating

    المؤلفون: Tung, C., Pampori, A., Kumar Dabhi, C., Salahuddin, S., Hu, C.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(8):1512-1515 Aug, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Thermal Studies of 3-D Stacked InGaAs HEMTs and Mitigation Strategy of Self-Heating Effect Using Buried Metal Insertion

    المؤلفون: Jeong, J., Kim, S.K., Suh, Y., Shim, J., Beak, W.J., Choi, S.J., Kim, J.P., Kim, B.H., Geum, D., Kim, J., Kim, S.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(8):4517-4523 Aug, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Current Temperature Stress Induced Threshold Degradation on Corbino a-InGaZnO Transistors

    المؤلفون: Shang, K., Li, X., Zhang, Y., Yang, Z., Li, M., Wang, L., Li, L.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(7):1205-1208 Jul, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Electrothermal Small-Signal Model of Nanosheet FETs With Zero-Temperature-Coefficient Based Parameters Extraction Method

    المؤلفون: Lyu, Y., Chen, W., Cai, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(7):4153-4159 Jul, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    A Knowledge-Guided Neural Network-Based Large-Signal Model for InP HBTs With Self-Heating Effect Consideration

    المؤلفون: Qi, J., Lu, H., Yan, S., Cheng, L., Zhao, R., Zhang, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 72(7):3886-3898 Jul, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Influence of the Gate Oxide and Back Oxide Material Types on Self-heating Effect in Junctionless FinFET

    المؤلفون: Atamuratov, Atabek, Jabbarova, Bahor, Khalilloev, Mahkam, Yusupov, Ahmed, Sivasankaran, K.

    المصدر: 2024 IEEE 25th International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM) Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM), 2024 IEEE 25th International Conference of. :2630-2633 Jun, 2024

    Relation: 2024 IEEE 25th International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS Transistors

    المؤلفون: Marjanovic, Milos, Veljkovic, Sandra, Mitrovic, Nikola, Zivanovic, Emilija, Gavric, Aleksandar, Dankovic, Danijel

    المصدر: 2024 11th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering (IcETRAN) Electrical, Electronic and Computing Engineering (IcETRAN), 2024 11th International Conference on. :1-6 Jun, 2024

    Relation: 2024 11th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering (IcETRAN)

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء