يعرض 1 - 7 نتائج من 7 نتيجة بحث عن '"Seung, Manho"', وقت الاستعلام: 1.22s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Measurement and Analysis of System-level ESD-induced Soft Failures of a Sense Amplifier Flip-Flop with Pseudo Differential Inputs

    المؤلفون: Jeong, Myeongjo, Park, Junsik, Kim, Jinwoo, Seung, Manho, Lee, Seokkiu, Kim, Jingook

    المصدر: 2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2018 40th. :1-5 Sep, 2018

    Relation: 2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD)

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Investigation of the probe-factor deconvolution methods for dynamic ESD fields measurements

    المؤلفون: Park, Myungjoon, Kim, Jingook, Choi, Joungcheul, Kim, Jinwoo, Jeong, Seonghoon, Seung, Manho, Lee, Seokkiu

    المصدر: 2017 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC) Electromagnetic Compatibility (APEMC), 2017 Asia-Pacific International Symposium on. :318-320 Jun, 2017

    Relation: 2017 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Transient 3-D TCAD simulation of multiple snapback event in mixed-mode test for mutual relation between protection devices

    المؤلفون: Kwon, Hyoungcheol, Lee, Yoonsung, Kim, Sangyong, Seung, Manho, Lee, Changyeol, Lee, Seokkiu, Hong, Sungjoo

    المصدر: 2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015 International Conference on. :467-470 Sep, 2015

    Relation: 2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Investigation of layout effects in diode-triggered SCRs under very-fast TLP stress through full-size, calibrated 3D TCAD simulation

    المؤلفون: Cilento, Tommaso, Yun, Chan-Su, Terterian, Arsen, Lee, Chang Hwi, Moon, Jung Eon, Lee, Si Woo, Kwon, Hyoungcheol, Seung, Manho, Lee, Seokkiu

    المصدر: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:1103-1107

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء