-
1مؤتمر
المؤلفون: Marcus, R.B., Shankoff, T., Smith, D., Capio, C.D., Retajczyk, T.F., Timko, A.
المصدر: 1978 International Electron Devices Meeting IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting, 1978 International. :591-593 1978
Relation: 1978 International Electron Devices Meeting
-
2مؤتمر
المؤلفون: Sinha, A. K., Sheng, T. T., Shankoff, T. A., Lindenberger, W. S., Fuls, E. N., Chang, C. C.
المصدر: 17th International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 1979. 17th Annual. :35-38 Apr, 1979
Relation: 17th International Reliability Physics Symposium
-
3مؤتمر
المؤلفون: Sequin, C., Sealer, D., Bertram, W., Buckley, R., Morris, F., Shankoff, T., Tompsett, M.
المصدر: 1974 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers. 1974 IEEE International. XVII:24-25 1974
Relation: 1974 IEEE International Solid-State Circuits Conference
-
4دورية أكاديميةEvaluation of optics and resists for 3000 Å wavelength photolithography with a Perkin-Elmer printer.
المؤلفون: Shankoff, T. A., Bruning, J. H., Johnston, R. L.
المصدر: Polymer Engineering & Science; Nov1980, Vol. 20 Issue 16, p1102-1109, 8p
-
5دورية
-
6دورية
المؤلفون: Curran, R. K., Shankoff, T. A.
المصدر: Applied Optics; July 1970, Vol. 9 Issue: 7 p1651-1657, 7p
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Shankoff, T. A., Curran, R. K.
المصدر: Applied Physics Letters; Oct1968, Vol. 13 Issue 7, p239-241, 3p
-
8دورية
المؤلفون: Brandes, R. G., Francois, E. E., Shankoff, T. A.
المصدر: Applied Optics; November 1969, Vol. 8 Issue: 11 p2346-2348, 3p
-
9دورية
-
10تقرير
المساهمون: Shankoff, T
المصدر: Other Information: Orig. Receipt Date: 31-DEC-66
وصف الملف: Medium: X; Size: Pages: 111
URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/4578072
Full Text Finder 
Find this article in full text from Scitation.