-
1مؤتمر
المؤلفون: Sinha, A. K., Sheng, T. T., Shankoff, T. A., Lindenberger, W. S., Fuls, E. N., Chang, C. C.
المصدر: 17th International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 1979. 17th Annual. :35-38 Apr, 1979
Relation: 17th International Reliability Physics Symposium
-
2مؤتمر
المؤلفون: Marcus, R. B., Sheng, T. T.
المصدر: 19th International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 1981. 19th Annual. :269-275 Apr, 1981
Relation: 19th International Reliability Physics Symposium
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Lau, W. S.Aff169, Perera, M. T. Chandima, Han, T., Sandler, N. P., Tung, C. H., Sheng, T. T., Chu, P. K., Chong, T. C.
المصدر: MRS Online Proceedings Library. 567(1):501-507
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Lindenberger, S., Georgiou, G. E., Hillenius, S. J., Luftman, H., Baiocchi, F. A., Sheng, T. T., Field, R. L.
المصدر: Journal of Applied Physics; 2/1/1991, Vol. 69 Issue 3, p1510, 8p, 16 Graphs
مصطلحات موضوعية: MICROSTRUCTURE, SILICON, THIN films
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Georgiou, G. E., Sheng, T. T., Kovalchick, J., Lynch, W. T., Malm, D.
المصدر: Journal of Applied Physics; 10/1/1990, Vol. 68 Issue 7, p3707, 7p
مصطلحات موضوعية: SEMICONDUCTOR junctions, DIODES, POLYCRYSTALS, METALLIZING
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Georgiou, G. E., Sheng, T. T., Baiocchi, F. A., Kovalchick, J., Lynch, W. T., Malm, D.
المصدر: Journal of Applied Physics; 10/1/1990, Vol. 68 Issue 7, p3714, 9p
مصطلحات موضوعية: DIODES, SEMICONDUCTOR junctions, ARSENIC, POLYCRYSTALS, METALLIZING
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kamgar, Avid, Baiocchi, F. A., Emerson, A. B., Sheng, T. T., Vasile, M. J., Haynes, Richard W.
المصدر: Journal of Applied Physics; 9/15/1989, Vol. 66 Issue 6, p2395, 7p, 1 Chart, 9 Graphs
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Baiocchi, F. A., Lifshitz, N., Sheng, T. T., Murarka, S. P.
المصدر: Journal of Applied Physics; 12/1/1988, Vol. 64 Issue 11, p6490, 6p, 1 Chart, 8 Graphs
مصطلحات موضوعية: POLYCRYSTALLINE semiconductors, SILICON, TANTALUM
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Vaidya, S., Murarka, S. P., Sheng, T. T.
المصدر: Journal of Applied Physics; 7/15/1985, Vol. 58 Issue 2, p971, 8p, 3 Black and White Photographs, 2 Charts, 8 Graphs
مصطلحات موضوعية: SILICON compounds, SILICA, BACKSCATTERING, TRANSMISSION electron microscopy
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Heimann, P. A., Murarka, S. P., Sheng, T. T.
المصدر: Journal of Applied Physics; Sep1982, Vol. 53 Issue 9, p6240-6245, 6p