-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3مؤتمر
المؤلفون: Choi, Yun Jin, Shin, Byung Chul, Choi, Seong Gon, Yoo, Young hun, Kim, Sang Kwon
المصدر: 2008 10th International Conference on Advanced Communication Technology Advanced Communication Technology, 2008. ICACT 2008. 10th International Conference on. 3:1956-1959 Feb, 2008
Relation: 2008 10th International Conference on Advanced Communication Technology
-
4مؤتمر
المؤلفون: Yoo, Younghun, Shin, Byung Chul, Choi, Seong Gon, Kim, Sang Kwon
المصدر: 2008 10th International Conference on Advanced Communication Technology Advanced Communication Technology, 2008. ICACT 2008. 10th International Conference on. 3:2121-2123 Feb, 2008
Relation: 2008 10th International Conference on Advanced Communication Technology
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, Young-Min, Ki, Young-Jae, Choi, Dong-Hyun *, Kim, Bo-Bae, Shin, Byung Chul, Kim, Dong-Min, Song, Heesang
المصدر: In The American Journal of the Medical Sciences November 2015 350(5):393-397
-
7
المؤلفون: Frank E. Gennari, Piyush Pathak, Ya-Chieh Lai, Sangah Lee, Jae-Hyun Kang, Jac Condella, Joong-Won Jeon, Jin Kim, Philippe Hurat, Jaehwan Kim, Shin Byung-Chul
المصدر: Design-Process-Technology Co-optimization for Manufacturability XIV.
مصطلحات موضوعية: Set (abstract data type), Optical proximity correction, Computer science, Extreme ultraviolet lithography, Reliability (computer networking), Design pattern, Process (computing), Overhead (computing), Design for manufacturability, Reliability engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c74af2a2e8bc634694fb1288e684fbd6
https://doi.org/10.1117/12.2551970 -
8
المؤلفون: Piyush Pathak, Jin Kim, Junsu Jeon, Jaehwan Kim, Byung-Moo Kim, Ya-Chieh Lai, Jae-Hyun Kang, Sangah Lee, Frank E. Gennari, Philippe Hurat, Shin Byung-Chul, Seung Weon Paek
المصدر: Design-Process-Technology Co-optimization for Manufacturability XIII.
مصطلحات موضوعية: Interconnection, Robust design, Design for yield, Computer science, Redundancy (engineering), Process window, Cmos process, Scaling, Reliability engineering, Design for manufacturability
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8dabd7647de85b676db5e0d383ada811
https://doi.org/10.1117/12.2514896 -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Hong, Young-Don, Choi, Sun-Ju *, Kim, Kyung-Hwa, Shin, Byung-Chul, Park, Woong-Woo, Park, Sang-Hyun, Park, Kyung Bae
المصدر: In Applied Radiation and Isotopes 2003 58(4):455-462
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.