المؤلفون: Ishihara, N., Shimada, Y., Ochi, T., Seto, S., Matsuo, H., Yamashita, H., Morita, S., Ukishima, M., Uejima, K., Arayashiki, Y., Kajiwara, S., Murayama, A., Nishiyama, K., Sugimae, K., Mori, S., Saito, Y., Shundo, T., Maeda, A., Kamiya, H., Uchiyama, Y., Fujiwara, M., Aiso, F., Sekine, K., Ohtani, N.

المصدر: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023

Relation: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)

المؤلفون: Ban, K., Gomi, M., Shundo, T., Nishimura, N.

المصدر: IEEE Transactions on Magnetics IEEE Trans. Magn. Magnetics, IEEE Transactions on. 41(10):2793-2795 Oct, 2005

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Ban, K., Shundo, T., Nishimura, N., Gomi, M.

المصدر: INTERMAG Asia 2005. Digests of the IEEE International Magnetics Conference, 2005; 2005, p1803-1804, 2p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.