-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3
المؤلفون: Al Hallak, Ziad
المساهمون: Institut Jean Lamour (IJL), Université de Lorraine (UL)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Libanaise, Université de Lorraine, Université libanaise, Mohammed Belmahi, Adnan Naja, UL, Thèses
المصدر: Physique [physics]. Université de Lorraine; Université libanaise, 2021. Français. ⟨NNT : 2021LORR0037⟩
مصطلحات موضوعية: [PHYS]Physics [physics], [CHIM.MATE] Chemical Sciences/Material chemistry, Plasma, [PHYS.PHYS.PHYS-PLASM-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Plasma Physics [physics.plasm-ph], [PHYS.PHYS.PHYS-PLASM-PH] Physics [physics]/Physics [physics]/Plasma Physics [physics.plasm-ph], couche mince, SiCN:H, Magnetron, Magnétron, Thin film, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [PHYS] Physics [physics], ECR
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0b5502a9e3c7d85afb0cabcce9307202
https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03335645/document -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: Plujat, Beatrice
المساهمون: STAR, ABES
مصطلحات موضوعية: Couches minces, Modes de croissance, [SPI.OTHER] Engineering Sciences [physics]/Other, Thin films, TMS, Growth modes, PECVD, SiCN:H, Microwave, Microonde
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::2539dd958a8a5b2d3f5bbcaaddc3772e
https://theses.hal.science/tel-01590593 -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.